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應(yīng)用案例
CASE
日立分析儀器OES結(jié)合了Adjcalc軟件和我們新的操作軟件SpArcfire，操作員因此能夠快速做出所有這些關(guān)鍵決定，同時(shí)也有助于增加額外價(jià)值。
使用X-MET8000光譜儀在船上完成實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)測試
BrettDuncan是日立分析儀器的區(qū)域銷售經(jīng)理。Brett擁有20多年的XRF、LIBS和OES工業(yè)分析儀銷售經(jīng)驗(yàn)。
我們所有的設(shè)備都簡單易用。幾乎不需要樣品制備;只需將少量待測油倒入樣品杯中，并將其放入分析儀內(nèi)即可。按下按鈕開始測量，幾分鐘內(nèi)即可獲得結(jié)果。結(jié)果會(huì)顯示在集成屏幕上，可以設(shè)置一個(gè)簡單的合格或不合格選項(xiàng)，以簡化程序。
選擇LAB-X5000進(jìn)行離型膜質(zhì)量控制的5大原因
測量離型膜上的硅涂布量是生產(chǎn)過程中質(zhì)量控制的一個(gè)重要方面。如果涂覆的硅太少，則粘合層將永久地粘在基底上，而涂覆過多則會(huì)增加生產(chǎn)成本，且不會(huì)進(jìn)一步提高產(chǎn)品質(zhì)量。為了控制硅涂層厚度，行業(yè)通常使用臺式X射線熒光(XRF)分析儀，例如，日立LAB-X5000，因?yàn)檫@些分析儀可提供經(jīng)濟(jì)、高效、可靠的無損分析。使用這些分析儀，操作員可快速調(diào)整生產(chǎn)過程，并有助于降低材料成本，同時(shí)提高產(chǎn)量。
光學(xué)發(fā)射光譜法(OES)是一種用于檢測各種金屬元素成分的分析技術(shù)，其應(yīng)用廣泛，備受信賴。可使用OES技術(shù)進(jìn)行檢測的樣品包括金屬熔液、金屬半成品和成品，以及金屬加工業(yè)、管材、螺栓、棒材、線材、板材等等。OES使用的電磁光譜包括可見光譜以及部分紫外光譜。波長范圍為130nm到約800nm。
市場對通信設(shè)備、電子可穿戴設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)的需求，加之汽車和其他行業(yè)對電子產(chǎn)品的日益依賴，正推動(dòng)線路板市場的快速增長。在提高電子元件的產(chǎn)量和滿足更高質(zhì)量期望的同時(shí)，企業(yè)正在尋求提高質(zhì)量的方法。
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