DVM6在地質(zhì)行業(yè)的應(yīng)用
發(fā)布時(shí)間:2022-01-29
簡(jiǎn)介
一百年前,偏振光顯微鏡就已經(jīng)應(yīng)用于傳統(tǒng)的地球科學(xué)研究之中了。從那時(shí)起,隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,這類顯微鏡在用戶友好性、人體工程學(xué)以及光學(xué)性能方面逐漸改善。時(shí)至今日,仍有一方面在原地踏步:傳統(tǒng)的偏振光(復(fù)式)顯微鏡僅適用于經(jīng)過(guò)制備的樣品,因?yàn)檫@類顯微鏡提供的工作距離不足以滿足整個(gè)樣品的檢測(cè)。
這就意味著必須切割和拋光較厚、較大的地質(zhì)樣品,以適應(yīng)復(fù)式顯微鏡的有限工作距離。這些樣品制備對(duì)精確度的要求極高,而在拋光片的厚度、平整度和拋光效果方面,對(duì)精確度的要求則更甚。運(yùn)用帶透射、偏振光 [1,2] 的復(fù)式顯微鏡進(jìn)行檢測(cè)時(shí),標(biāo)準(zhǔn)厚度應(yīng)為 30 微米。
換言之,科學(xué)家檢測(cè)未經(jīng)制備的樣品時(shí),需要切換成工作距離較大的體視顯微鏡。 一臺(tái)適用于經(jīng)過(guò)或未經(jīng)過(guò)制備樣品檢測(cè)的顯微鏡.
本文闡述了地質(zhì)科學(xué)家如何運(yùn)用一臺(tái)偏振光顯微鏡對(duì)經(jīng)過(guò)或未經(jīng)過(guò)制備的樣品進(jìn)行分析的:這就是Leica DVM6 M 數(shù)碼顯微鏡。選用適當(dāng)?shù)呐浼擄@微鏡即可化身為半定量型偏振顯微鏡。
地質(zhì)樣品的多樣性需要一系列合格的顯微鏡解決方案:
適用于所有地質(zhì)檢測(cè)項(xiàng)目
運(yùn)用適配器將Leica DVM 6 M 安裝在手動(dòng)或電動(dòng)調(diào)焦柱上,即可獲得額外工作距離,確保地質(zhì)學(xué)家能夠?qū)伖饣蛭磼伖獾臉悠愤M(jìn)行檢測(cè)觀察。具備高數(shù)值孔徑的透射光座,提供了適用于多樣化偏振光應(yīng)用領(lǐng)域的數(shù)碼解決方案。
為透射光座配備一個(gè)偏振載物臺(tái),上面帶一個(gè)旋入/旋出偏光鏡。按照上述方法設(shè)置Leica DVM6 M,確保顯微鏡適用于任何地質(zhì)科學(xué)應(yīng)用領(lǐng)域,并保證用戶能夠分別觀察平行和交叉偏振光下的透明樣品。樣品是否配有蓋玻片或樣品是否系未切削的透明礦物質(zhì)(例如,鉆石或指示礦物),這些并不重要。
Leica DVM6 M 能夠提高地質(zhì)科學(xué)家的工作效率,歸因于以下優(yōu)勢(shì):
• 運(yùn)用一臺(tái)儀器即可對(duì)經(jīng)過(guò)或未經(jīng)過(guò)制備的樣品進(jìn)行靈活處理;
• 全面集成環(huán)形光,外加同軸和其他照明類型,確保研究和分析樣品的選項(xiàng)超過(guò)復(fù)式顯微鏡;
• 高效、快速實(shí)現(xiàn)整個(gè)范圍內(nèi)的放大倍率切換;
• 軟件界面直觀,適用于顯微鏡操作和分析;
• 擁有對(duì)重要參數(shù)進(jìn)行自動(dòng)追蹤和存儲(chǔ)(編碼)的功能。
分析經(jīng)過(guò)制備的樣品
下面選取玄武巖薄片為例。采用不同方向的偏振光照明,可以展示玄武巖的結(jié)構(gòu)和組成。
圖1:運(yùn)用平行偏振光獲取的玄武巖薄片圖像 圖2:運(yùn)用交叉偏振光獲取的相同樣品圖像
如果單幅圖像顯示樣品的感興趣區(qū)域比顯微鏡的視場(chǎng)大,則研究人員可以運(yùn)用顯微鏡軟件中的 Live Image Builder(實(shí)時(shí)圖像生成器)功能。在載物臺(tái)掃描階段,該項(xiàng)功能可以通過(guò)照相機(jī)記錄的合成圖像來(lái)創(chuàng)建單幅圖像,保證用戶能夠更大范圍地查看樣品。
圖3:上圖系玄武巖薄片的概覽大圖
針對(duì)反光,可以采用內(nèi)置同軸照明方式觀察拋光樣品,無(wú)需附加部件。在反射光模式下,調(diào)節(jié)內(nèi)置 ¼ λ片(波板),即可完成偏振光交叉。
圖4:運(yùn)用平行偏振反射光觀察礦石礦物 圖5:運(yùn)用交叉偏振反射光觀察同一樣品
Leica DVM6 M 同軸照明模式配備傾斜照明滑塊,提供晶界、硬度差和劃痕的三維圖像。只需簡(jiǎn)單地四處移動(dòng)照明滑塊,即可從該角度觀察樣品。無(wú)需其他操作。
右圖顯示僅配備集成環(huán)形光的Leica DVM6 M 才適用于該領(lǐng)域。雖然傳統(tǒng)偏振光顯微鏡不帶暗場(chǎng),但配備環(huán)形光的Leica DVM6 M 卻為拋光樣品提供了額外的暗場(chǎng)角度。
圖6:運(yùn)用平行偏振傾斜反射光照明獲取的 7:運(yùn)用環(huán)形光照明獲取的同一樣品細(xì)節(jié)圖像
同一樣品細(xì)節(jié)圖像,用于查看硬度差和劃痕圖
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