咨詢熱線：024-23789806/18304009420

產品中心

PRODUCT CENTER

產品中心

PRODUCT

飛行時間二次離子質譜儀 PHI nano TOF 3+

二次離子質譜儀

關鍵詞：

二次離子質譜儀

所屬分類：

二次離子質譜儀

附件下載：

產品咨詢：

024-23789806

產品詢價

相關產品

產品中心

PRODUCT

產品報價

立即提交

產品描述

飛行時間二次離子質譜儀

新一代 TRIFT 質量分析器，更好的質量分辨率
適用于絕緣材料的無人值守自動化多樣品分析
離子束技術
平行成像 MS/MS 功能，助力有機大分子結構分析
多功能選配附件

TRIFT分析器適用于各種形狀的樣品

寬帶通能量+寬立體接收角度

寬帶通能量、寬立體接受角-適用于各種形貌樣品分析

實現高精度分析的一次離子槍

離子束技術實現更高質量分辨

PHI nanoTOF3+ 能夠提供高質量分辨和高空間分辨的TOF-SIMS分析：在高質量分辨模式下，其空間分辨率優于500 nm ；在高

空間分辨模式下，其空間分辨模式優于50 nm。通過結合高強度離子源、高精度脈沖組件和高分辨率質量分析器，可以實現低

噪聲、高靈敏度和高質量分辨率的測量；在這兩種模式下，只需幾分鐘的測試時間，均可完成采譜分析。

TOF-SIMS自動化多樣品分析-適用于絕緣材料

PHI nanoTOF3+搭載全新開發的自動化多樣品分析功能，程序可根據樣品導電性自動調整分析時所需的高度與樣品臺偏壓，可以對包括絕緣材料在內的各類樣品進行無人值守自動化TOF-SIMS分析。

整個分析過程非常簡單，只需三步即可對多個樣品進行表面或深度分析：①在進樣室拍攝樣品臺照片；②在進樣室拍攝的照片上指定分析點；③按下分析鍵，設備自動開始分析。過去，必須有熟練的操作人員專門操作儀器才能進行TOF-SIMS分析；現在，無論操作人員是否熟練，都可以獲得高質量的分析數據。

標配自動化傳樣系統

PHI nanoTOF3+配置了在XPS上表現優異的全自動樣品傳送系統：樣品尺寸可達100mmx100 mm，而且分析室標配內置樣品托停放裝置；結合分析序列編輯器（Queue Editor），可以實現對大量樣品的全自動連續測試。

采用新開發的脈沖氳離子槍獲得

Patent自動荷電雙束中和技術

TOF-SIMS測試的大部分樣品為絕緣樣品，而絕緣樣品表面通常有荷電效應。PHI nanoTOF3+采用自動荷電雙束中和技術，通過同時發射低能量電子束和低能量氳離子束，可實現對任何類型和各種形貌的絕緣材料的真正自動荷電中和，無需額外的人為操作。

·需要選配Ar離子槍

遠程訪問實現遠程控制儀器

PHI nanoTOF3+允許通過局域網或互聯網訪問儀器。只需將樣品臺放入進樣室，就可以對進樣、換樣、測試和分析等所有操作進行遠程控制。我們的專業人員可以對儀器進行遠程診斷*如需遠程診斷，請聯系我們的客戶服務人員。

從截面加工到截面分析：只需一個離子源即可完成

標配離子槍FIB(Focused lon Beam)功能

在PHI nanoTOF3+中，液態金屬離子槍具備FIB功能，可以使用單個離子槍對樣品進行橫截面加工和橫截面TOF-SIMS分析。通過操作計算機，可以快速輕松地完成從FIB處理到TOF-SIMS分析的全過程。此外，可在冷卻條件下進行FIB加工。在選配Ga源進行FIB加工時，可以獲得FIB加工區域的3D影像；Ga源還可以作為第二分析源進行TOF-SIMS分析。

通過平行成像MS/MS進行分子結構分析[選配]

MS/MS平行成像同時采集MS1/MS2數據

在TOF-SIMS測試中，MS1質量分析分析器接收從樣品表面產生的所有二次離子碎片，對于質量數接近的大分子離子，MS1譜圖難以區分。通過安裝串聯質譜MS2，對于特定離子進行碰撞誘導解離生產特征離子碎片，MS2譜圖可以實現對分子結構的進一步鑒定。PHI nanoTOF3 +具備串聯質譜MS/MS平行成像功能，可以同時獲取分析區域的MS1和MS2數據，為有機大分子結構解析提供了強有力的工具。